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CITE2023第十一屆中國電子信息博覽會完美收官

發(fā)表時間:2023-04-10 10:56

2023年4月7日-9日,第十一屆中國電子信息博覽會在深圳福田會展中心完美收官。本次展會以“創(chuàng)新引領(lǐng),協(xié)同發(fā)展”為理念,聚焦高端半導(dǎo)體、信創(chuàng)、大數(shù)據(jù)與存儲、基礎(chǔ)元器件、智能網(wǎng)聯(lián)汽車等領(lǐng)域,有1200多家企業(yè)帶來了5000多項科技創(chuàng)新產(chǎn)品參展,置富科技作為一家專業(yè)的閃存智能測試設(shè)備服務(wù)商,也參與本屆電子信息博覽會,為各位觀眾帶來專業(yè)的測試設(shè)備和前沿的測試技術(shù),助力集成電路產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新引領(lǐng),推動數(shù)字經(jīng)濟高質(zhì)量發(fā)展。

展會現(xiàn)場


聚焦閃存測試 創(chuàng)新引領(lǐng)發(fā)展 圖片

本次展會,置富科技重點展示了閃存芯片智能測試系統(tǒng)-實驗版(FT-N016W)、便攜式-專業(yè)版(FT-N008B)、eMMC智能測試系統(tǒng)以及國產(chǎn)化固態(tài)存儲產(chǎn)品,吸引了不少專業(yè)觀眾前來交流探討,尋找合作契機。尤其是對于置富自主研發(fā)的閃存壽命預(yù)測技術(shù),引發(fā)了大家深刻的探討,受到廣泛關(guān)注。該技術(shù)通過長時間大量數(shù)據(jù)積累分析和模擬,創(chuàng)新地將人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法應(yīng)用于Flash顆粒測試技術(shù)中,在非破壞性的閃存測試方式下,預(yù)測閃存芯片block的剩余耐寫次數(shù)和質(zhì)量等級。對閃存芯片的可靠性做快速有效的篩選,從而提升存儲器的可靠性和使用壽命,為企業(yè)降本增效。

測試工程師演示測試流程

測試工程師與客戶探討測試技術(shù)

閃存智能分級   助力產(chǎn)業(yè)發(fā)展 圖片

展會現(xiàn)場,置富閃存芯片智能測試系統(tǒng)-實驗版(FT-N016W)也備受矚目,眾多存儲行業(yè)客戶與工程師深入探討閃存測試的必要性以及測試設(shè)備功能,可以為客戶解決的痛點等問題。該設(shè)備是一種可以量身定制測試方案的綜合閃存測試系統(tǒng),系統(tǒng)并行測試閃存顆粒數(shù)量最多可達16顆,可支持多種測試pattern及自定義測試參數(shù)功能,提供一鍵式基礎(chǔ)測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程,可以實現(xiàn)閃存顆粒剩余壽命預(yù)測、實測、數(shù)據(jù)保持和讀干擾等多種功能性測試,幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠性狀態(tài),完成測試后可以方便快捷地一鍵導(dǎo)出測試報告,為用戶提供最直觀的圖形化測試數(shù)據(jù),為閃存顆粒等級分類和應(yīng)用提供最精確的參考依據(jù),并基于閃存顆粒品質(zhì)檢測結(jié)果實現(xiàn)智能分級,可以為高級工程師閃存質(zhì)量分析、科研單位閃存質(zhì)量研究提供有效助力,為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展提供可靠的測試工具。

測試工程師講解設(shè)備功能

此外,置富科技還有針對量產(chǎn)型測試的閃存測試設(shè)備:生產(chǎn)版(FT-N240)、科研版(FT-N200)、寬溫版(FT-N240B)、卓越版(FT-N512),可提供寬溫測試環(huán)境,并行測試閃存顆粒種類最多達64種,并行測試閃存顆粒數(shù)量最多達512顆,可以大大提高閃存芯片的鑒定能力和檢測效率,滿足存儲廠商和大型檢測中心的測試需求,為高端領(lǐng)域應(yīng)用提供了可靠的存儲質(zhì)量保障。

量產(chǎn)型測試設(shè)備

置富科技以閃存智能測試和分級篩選為核心,逐步形成以芯片測試、方案應(yīng)用、產(chǎn)品銷售為一體的全產(chǎn)業(yè)鏈企業(yè),參與本次展會也是為了響應(yīng)市場需求,協(xié)同上下游產(chǎn)業(yè)鏈,共同推動半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的高質(zhì)量可持續(xù)發(fā)展。

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