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新品發(fā)布：置富科技重磅推出5款SSD寬溫智能測試設(shè)備，推動存儲測試產(chǎn)業(yè)技術(shù)升級發(fā)表時間：2025-04-28 10:30 在存儲技術(shù)飛速迭代的浪潮中，固態(tài)硬盤（SSD）的性能與可靠性已成為行業(yè)競爭的核心壁壘。面對海量測試場景下的效率瓶頸與潛在缺陷檢測難題，置富科技以創(chuàng)新驅(qū)動市場，應(yīng)運而生推出PCIe Gen5/Gen4/Gen3 SSD寬溫智能測試設(shè)備、SATA Gen3寬溫智能測試設(shè)備和SATA Gen3+PCIe Gen4 SSD寬溫智能測試設(shè)備，以智能化、精準(zhǔn)化、場景化的解決方案，為SSD成品測試領(lǐng)域注入新動能。 直擊行業(yè)痛點：效率與精準(zhǔn)的雙重突破PCIe Gen 4 SSD智能測試設(shè)備不僅支持： PCT斷電測試 BIT老化測試 IOPS速度測試 MDT協(xié)議測試 Protocol功能測試 JEDEC TEST耐久性測試 ...... 還能通過設(shè)置電壓拉偏（±10%，精度0.05V）模擬不同的電壓條件，來測試SSD在不同電壓環(huán)境下的表現(xiàn)，確保SSD在復(fù)雜工況下的信號完整性和電源穩(wěn)定性。測試完成后，一鍵生成可視化報告與日志，協(xié)助產(chǎn)品研發(fā)定位故障位置和原因分析，直觀評估產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性使用狀態(tài)。 模塊架構(gòu)設(shè)計：賦能企業(yè)級規(guī)?；瘻y試針對企業(yè)級SSD高密度測試需求，設(shè)備采用模塊化架構(gòu)設(shè)計，支持128~256盤位并行測試（可定制擴展），全面覆蓋企業(yè)級、工業(yè)級和消費級產(chǎn)品驗證。通過-60℃至150℃寬溫域精準(zhǔn)控制，可模擬極寒、高溫、溫循等真實應(yīng)用場景，精準(zhǔn)評估SSD在數(shù)據(jù)中心、工業(yè)控制以及消費電子等領(lǐng)域的長期可靠性，確保產(chǎn)品生命周期內(nèi)的耐用表現(xiàn)。 智能操作系統(tǒng)：降本增效重構(gòu)測試范式置富科技突破傳統(tǒng)測試設(shè)備的操作桎梏，通過開放式工單配置平臺與Windows/Linux雙系統(tǒng)兼容設(shè)計，用戶可自由組合測試條件，靈活定制測試流程。結(jié)合網(wǎng)絡(luò)化遠程控制與自動化數(shù)據(jù)傳輸，實現(xiàn)“一鍵啟動、全程無人值守”的智能操作模式，可大幅提高測試效率，減少人工成本，為存儲制造商及研發(fā)機構(gòu)提供高性價比的測試選擇。 全場景應(yīng)用：驅(qū)動存儲產(chǎn)業(yè)技術(shù)升級目前，PCIe Gen4等 SSD寬溫智能測試設(shè)備已通過多家頭部存儲廠商的嚴(yán)格驗證，并在消費電子、云計算、數(shù)據(jù)中心、工業(yè)自動化等領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)規(guī)?；瘻y試，得到市場客戶廣泛認(rèn)可。同時，基于市場需求發(fā)展趨勢，置富科技也已完成PCIe Gen5/PCIe Gen3 SSD寬溫智能測試設(shè)備、SATA Gen3寬溫智能測試設(shè)備和SATA Gen3+PCIe Gen4 SSD寬溫智能測試設(shè)備的產(chǎn)品路線布局，形成包含SATA Gen3到PCIe Gen5全兼容測試平臺的產(chǎn)品矩陣。 置富科技SSD寬溫智能測試系列設(shè)備，不僅滿足了當(dāng)前市場對高性能SSD測試的需求，更為存儲行業(yè)的技術(shù)創(chuàng)新注入了新動力。未來，置富科技將持續(xù)深化智能測試技術(shù)創(chuàng)新，通過構(gòu)建覆蓋全協(xié)議、全場景、全生命周期的存儲設(shè)備驗證體系，助力存儲產(chǎn)業(yè)實現(xiàn)從研發(fā)驗證到量產(chǎn)檢測的全流程質(zhì)量升級。 聲明：此篇為廣告原創(chuàng)文章，轉(zhuǎn)載請標(biāo)明出處鏈接：http://www.s22067.cn/sys-nd/41.html
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